การทดลองเพื่อกำหนดพารามิเตอร์ที่เหมาะสมต่อการลดอัตราความผิดพลาด ในการอ่านเขียนของฮาร์ดดิกส์ไดร์ฟ

Abstract

เสนอแนวทางการควบคุมคุณภาพโดยแนวทางของซิกซ์ ซิกม่า เพื่อลดปริมาณฮาร์ดดิกส์ไดร์ฟที่ไม่ได้ขนาดตามความจุเริ่มต้น (Prime Capacity) ที่ 500GB ในกระบวนการประกอบฮาร์ดดิกส์ไดร์ฟ และทดสอบฟังก์ชันการใช้งาน และศึกษาหาปัจจัยที่มีอิทธิพลต่ออัตราความผิดพลาดในการทดสอบการอ่านเขียน (Bit error rate) ของฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ ซึ่งเป็นข้อกำหนดของผลิตภัณฑ์และพิจารณาหาระดับของปัจจัยที่เหมาะสม การวิจัยดำเนินตามขั้นตอนการวิธีการทางซิกซ์ ซิกม่าทั้ง 5 ขั้นตอน โดยเริ่มจากขั้นตอนนิยามปัญหา ขั้นตอนการวัดเพื่อกำหนดสาเหตุของปัญหา ขั้นตอนการวิเคราะห์สาเหตุของปัญหา ขั้นตอนการปรับปรุงแก้ไขกระบวนการ และขั้นตอนการควบคุมการผลิตตามลำดับ โดยมี 25 ปัจจัยในตอนเริ่มต้น และถูกกลั่นกรองเหลือ 4 ปัจจัย เพื่อนำเข้าในการทดลองเชิงแฟกทอเรียลแบบ 2ᵏ ผลการวิเคราะห์โดยใช้หลักการทางสถิติวิศวกรรมที่ระดับนัยสำคัญ 0.05 ปัจจัยที่มีอิทธิพลต่ออัตราความผิดพลาดในการอ่านเขียนของฮาร์ดดิกส์ไดร์ฟ 3 ปัจจัย ได้แก่ ความหนาของสารเคลือบหัวอ่านเขียนปัจจุบันเท่ากับ 21 อังสตรอม ความหนาของสารเคลือบผิวบนแผ่นดิกส์ปัจจุบันเท่ากับ 22 อังสตรอม และระยะห่างระหว่างหัวอ่านเขียนและแผ่นดิกส์ปัจจุบันเท่ากับ 1.9 นาโนเมตร โดยระดับของปัจจัยที่เหมาะสมต่อการลดอัตราความผิดพลาดในการอ่านเขียนของฮาร์ดดิกส์ไดร์ฟคือ ความหนาของสารเคลือบหัวอ่านเขียนเท่ากับ 17 อังสตรอม ความหนาของสารเคลือบผิวบนแผ่นดิกส์ เท่ากับ 20 อังสตรอม และระยะห่างระหว่างหัวอ่านเขียนและแผ่นดิกส์ที่ระดับ 1.5 นาโนเมตร จากนั้นจึงทดสอบเพื่อยืนยันผลก่อนนำไปใช้จริงในกระบวนการผลิต และทำการควบคุมปัจจัยนำเข้าดังกล่าว จากการดำเนินการคุณภาพตามแนวทางของซิกซ์ ซิกม่า สัดส่วนฮาร์ดดิกส์ไดร์ฟที่ต้องลดขนาดความจุลงจากเดิม 500GB เป็น 320GB เนื่องจากอัตราความผิดพลาดในการอ่านเขียนไม่ได้ตามเกณฑ์ลดลงจากเดิม 7.05% เหลือ 3.24% คำนวณเป็นจำนวนเงินที่ได้รับกลับคืนเท่ากับ 38,086,588 บาท/ปี นอกจากนี้ยังพบว่าสัดส่วนของฮาร์ดดิกส์ไดร์ฟที่มีอัตราความผิดพลาดไม่ได้ตามเกณฑ์ที่กำหนดไว้ที่อุณหภูมิ 25 องศาเซลเซียส และ 55 องศาเซลเซียสมีค่าลดลงเหลือ 0.42% ทำให้มีโอกาสในการยกเลิกการทดสอบดังกล่าวที่อุณหภูมิใดอุณหภูมิหนึ่งในอนาคต ทั้งนี้ต้องคำนึงถึงโอกาสที่ของเสียจะหลุดลอดไปถึงลูกค้าด้วย